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EMIT L2A Estimated Surface Reflectance and Uncertainty and Masks 60 m V001

NASAのEMIT撮像分光計が取得した地表反射率、反射率の不確実性、マスクを60 m解像度で収録するNetCDF-4データセット。

提供元
NASA EOSDIS Land Processes Distributed Active Archive Center (LP DAAC)
分野
地球・地理 > 地図・地形
利用条件
自由に使える
ライセンス
MIT

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